CDM-815C鹵素照明金相顯微鏡
使用專業的金相物鏡及平場目鏡，成像質量好，分辨率高，觀察舒適。提供優越的圖像質量和穩固可靠的機械結構。選配相應的攝影攝像附件，可對觀察圖像進行采集和保存，配電腦和專業金相分析軟件圖像進行金相圖像分析。操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。
CDM-398高檔型正置反射金相顯微鏡
無限遠反射金相顯微鏡是一種多用途工業檢驗用光學儀器，配置大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統，視場清晰。可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業試樣的檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器.
CDM-22高配置倒置型金相顯微鏡
CDM-22系列倒置金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內部結構組織，倒置金相顯微鏡是金屬學研究金相的重要儀器。鑄造。冶煉、熱處理的質量研究，原材料的檢驗或材料處理后的分析等均可使用倒置金相顯微鏡。
CDM-33無窮遠倒置金相顯微鏡
本儀器可廣泛用于機械工業的金相組織觀察分析，地礦部門對礦物的分析研究，電子等方面的觀察測量，是工廠、高等院校、科研機構及電子工業的首先。穩定、高品質的光學系統使成像更清晰，襯度更好，簡潔而新穎的外觀更符合現代潮流，人性化的設計，簡便的操作使您從繁重的工作壓力中解放出來。
CDM-802高檔研究型倒置金相顯微鏡
CDM-802倒置金相顯微鏡采用優良的無限遠光學系統與模塊化的功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態的顯微觀察，是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。也適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業觀察透明、半透明、不透明的物質，如金屬、陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其他非金屬材料，也適合醫藥、農林、公安、學校、科研部門作觀察分析用。
CDM-201研究型正置金相顯微鏡
無限遠透反射金相顯微鏡是一種多用途工業檢驗用光學儀器，配置大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統，視場清晰。可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業試樣的檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器.
XJ-53C三目正置金相顯微鏡
XJ-53C三目正置金相顯微鏡配置了立桿式的機架和移動工作臺，顯微鏡主體可大范圍升降和360°旋轉。尤其適合于觀察有一定高度的大工件試樣，也適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結構分析和鑒別，材料表面的某些特征（劃痕、裂紋、噴涂的均勻性），化學顆粒等方面的研究。
XJ-52C科研級三目正置金相顯微鏡
XJ-52C科研級三目正置金相顯微鏡配有大范圍移動的載物臺、柯拉落射照明系統、長距平場物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，可實現偏光觀察。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結構分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學顆粒的分析研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。
XJ-51C科研級三目倒置金相顯微鏡
XJ-51C科研級三目倒置金相顯微鏡采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念，帶有偏光裝置，并可選配暗場裝置、DIC微分干涉裝置實現暗場和微分干涉等特殊觀察。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金屬、巖礦內部結構組織的鑒定和分析，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等。廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科學領域。是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。
XJ-51BD科研級暗場金相顯微鏡
XJ-51BD科研級暗場金相顯微鏡采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念，帶有偏光裝置、暗場裝置，可實現偏光觀察、暗場觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業、硅片制造業、電子信息產業等觀察研究的理想儀器。
XJ-55BD三目暗場金相顯微鏡
XJ-55BD三目暗場金相顯微鏡采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念，帶有偏光裝置、暗場裝置，可實現偏光觀察、暗場觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業、硅片制造業、電子信息產業等觀察研究的理想儀器。
CDM-819高檔研究級金相顯微鏡
CDM-819高檔研究級金相顯微鏡，反（落）射照明器，柯拉照明系統，帶視場光闌與孔徑光闌，中心可調；帶斜射照明裝置，透、反射式機架，前置低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程30mm，微調精度0.001mm。帶有防止下滑的調節松緊裝置和隨機上限位裝置。內置5W暖色LED透射光照明系統，上下光可獨立控制。
CDM-820金相顯微鏡
CDM-820金相顯微鏡適宜于微小和不方便倒置的試樣，及需要尋找特定范圍目標試樣的觀察研究和分析。透反射金相顯微鏡配有落射照明器（同軸反射）和透射照明器，不僅可以鑒別和分析各種金屬、合金材料、非金屬物質的組織結構及集成電路、微顆粒、線材、纖維、表面噴涂等的一些表面狀況，透反射金相顯微鏡還可以廣泛地應用于電子、化工和儀器儀表行業觀察不透明的物質和透明的物質。如金屬、陶瓷、集成電路、電子芯片、印刷電路板、液晶板、薄膜、粉末、碳粉、線材、纖維、鍍涂層以及其它非金屬材料等。
CDM-813 三目反射型金相顯微鏡
反射金相顯微鏡適宜于微小和不方便倒置的試樣，及需要尋找特定范圍目標試樣的觀察研究和分析。透反射金相顯微鏡配有落射照明器（同軸反射）和透射照明器，不僅可以鑒別和分析各種金屬、合金材料、非金屬物質的組織結構及集成電路、微顆粒、線材、纖維、表面噴涂等的一些表面狀況，透反射金相顯微鏡還可以廣泛地應用于電子、化工和儀器儀表行業觀察不透明的物質和透明的物質。如金屬、陶瓷、集成電路、電子芯片、印刷電路板、液晶板、薄膜、粉末、碳粉、線材、纖維、鍍涂層以及其它非金屬材料等。
CDM-985研究型明暗場正置金相顯微鏡
?CDM-965/985無限遠透反射明暗場金相顯微鏡是一種多用途工業檢驗用光學儀器，配置大視野目鏡與偏光觀察裝置、暗場裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統，視場清晰。可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業試樣的檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器.
CDM-823倒置無窮遠研究型金相顯微鏡
CDM-823系列金相顯微鏡是應用于實驗室、教育科研、材料分析和檢測領域中高效、性能卓越的顯微鏡。其設計風格獨特、光學系統優秀、機械設計完美，是擁有完全自主知識產權的UCIS無限遠色差獨立校正光學系統的金相顯微鏡。
CDM-980長工作距離工業檢測金相顯微鏡
CDM-980/988工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察、暗場觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺可有效定位工件觀察部位。調焦機構采用圓柱滾子導向傳動，機構升降平穩。產品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產品檢測。
CDM-202高檔研究型倒置金相顯微鏡
CDM-202倒置金相顯微鏡采用優良的無限遠光學系統與模塊化的功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態的顯微觀察，是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。
CDM-806改良型金相顯微鏡
整合了Zui新金相顯微鏡技術優勢，以優異的成像性能、舒適的操作體驗，為客戶提供高性價比的金相分析及工業檢測解決方案,LMPlan系列長工作距金相物鏡，提升色差校正水平，同時調整膜系設計，進一步提升圖像分辨率與色彩還原性采用新生兒睡床Zui佳舒適角度（30°）的觀察筒，能夠緩解用戶在長時間工作狀態下的緊張與疲勞，保證Zui佳觀察狀態。
BX-500便攜式現場型金相顯微鏡
便攜式金相顯微鏡是適用于現場多種大型件的金相檢查、失效分析的顯微鏡，它不用切割取樣，可直接在工件上打磨、拋?光，從而保證工件的完整性。顯微鏡底座帶有磁力吸座，直接吸附在工件上觀察組織的現場金相檢驗。便攜式金相顯微鏡適用于航空制造、機械制造、車輛制造、鍋爐及壓力容器的制造及檢驗、石油化工、鐵路、造船、電廠、電站、設備安裝、大型模具、安全檢測、質量監督、理化試驗室等行業。
GX51奧林巴斯明暗場金相顯微鏡
GX51奧林巴斯金相顯微鏡是一款可實現明、暗視野，微分干涉及簡易偏光觀察的金相顯微鏡。金相顯微鏡GX51通過側面的中間觀察筒可連續數字式相機，從而構筑多種更能的觀察研究系統。奧林巴斯顯微鏡GX51對應明、暗視野，微分干涉及簡易偏光觀察。金相顯微鏡GX51明、暗視場的切換用手邊的一個撥桿便可輕松實現。
GX41奧林巴斯金相顯微鏡
GX41奧林巴斯金相顯微鏡是一款機體輕巧，外觀設計緊湊且便于攜帶的適用于生產線的小型化倒置金相顯微鏡，可以進行明視野及簡易偏光觀察。小型機體可放置于狹小空間內，大大方便了在需要快速檢查的生產現場使用。此顯微鏡還可以輕松移動，適宜在生產現場之間的移動及教育和實習等場合使用。
BX51-P奧林巴斯金相顯微鏡
BX51-P奧林巴斯金相顯微鏡是利用偏光識別各種樣品不同特性的高級金相顯微鏡。適用于各向同性或異性材料的鑒別，一般廣泛用于醫學，植物學及化工產品或礦物等的分析。BX51P在能實現Zui小光學失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產品中選擇所需產品。奧林巴斯UPLFLN-P系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察及包括紫外線激發的熒光觀察的通用物鏡，能輕松應對包含偏振光觀察的多種研究或檢查。
HG-2000便攜式金相顯微鏡
?HG-2000便攜式金相顯微鏡，設計緊湊、結構穩定、成像清晰、視場明亮、觀察舒適，粗微調焦手輪、物鏡轉換變倍方便，X、Y軸移動平臺，通斷磁力吸鐵底腳，?垂直反射照明光源，兩個光路，易于觀察與數碼照相。