科研級數碼三目倒置金相顯微鏡VM3200I
VM3200I科研級三目倒置金相顯微鏡采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念，儀器帶有偏光裝置，并可選配暗場裝置、DIC微分干涉裝置實現暗場和微分干涉等特殊觀察。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金屬、巖礦內部結構組織的鑒定和分析，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等。廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科學領域。是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。總放大倍數：50-1000X
CMY-290DM透反射數碼金相顯微鏡
透反射數碼金相顯微鏡CMY-290DM由CMY-290和HDP5612顯示屏相機組成。CMY-290配置了透射、落射照明裝置，既可以觀察金屬材料的金相組織結構，也可以觀察半透明，甚至不透明的生物標本。采用了無限遠長工作距平場消色差金相物鏡和大視野目鏡，具有成像清晰，視野廣闊，操作方便等特點。 HDP5612顯示屏相機圖像色彩還原接近原色，提供鼠標操作，廠家出廠配套無線鼠標，保證產品使用靈活方便； 11.6寸1080P液晶屏顯示內置測量軟件，可拍照錄像測量預覽圖片，支持U盤存儲，內置工業相機全部需要的功能。CMY-290DM尤其適合觀察金相試樣，電子芯片等樣品，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。
CM80BD研究級材料檢測顯微鏡
研究級材料檢測顯微鏡CM80BD采用全新半復消技術，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現清晰銳利的顯微圖像，或根據實際應用進行功能選擇，是工業檢測的有效工具。配有8寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節更加清晰。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態.同時可以在在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
CM80BD-AF電動研究級材料檢測顯微鏡
電動研究級材料檢測顯微鏡CM80BD-AF采用全新半復消技術，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現清晰銳利的顯微圖像，或根據實際應用進行功能選擇，是工業檢測的有效工具。機器采用電動轉換器，物理按鈕和軟件雙控，進行遠位數調節。8寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節更加清晰。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態.同時可以在在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
CM60BD研究級材料檢測顯微鏡
研究級材料檢測顯微鏡CM60BD采用全新半復消技術，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現清晰銳利的顯微圖像，或根據實際應用進行功能選擇，是工業檢測的有效工具。配有6寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節更加清晰。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態.同時可以在在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
CM40BD-AF電動研究級材料檢測顯微鏡
電動研究級材料檢測顯微鏡CM40BD-AF采用全新半復消技術，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現清晰銳利的顯微圖像，根據實際應用進行功能選擇，是工業檢測的有效工具。機器采用電動轉換器，物理按鈕和軟件雙控，進行遠位數調節。特別是針對中小尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節更加清晰。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態.同時可以在在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
CMY-53BD明暗場透反射金相顯微鏡(內置偏光裝置)
明暗場透反射金相顯微鏡CMY-53BD采用無限遠色差校正光學系統，配置了落射與透射照明系統、無限遠半復消色差物鏡、內置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，能分別對不透明物體或透明物體進行顯微觀察，尤其適合觀察金相試樣，電子芯片等樣品。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。
CMY-500BD科研級金相顯微鏡(陶瓷部件、精密模具檢測)
CMY-500BD研究型明暗場金相顯微鏡是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業需求而開發的，可廣泛應用于半導體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件、金屬、陶瓷部件、精密模具的檢測。本儀器采用了反射和透射兩種照明形式，在反射光照明下可進行明暗場觀察（選購DIC裝置）、偏光觀察。在透射光下作明場觀察。
MH-100油品磨痕分析顯微鏡
油品磨痕測量顯微鏡MH-100是我公司專為中國石油科學研究機構定制的檢測潤滑油中顆粒對金屬（鋼珠）磨損程度的觀察檢測分析系統。該系統采用了具有抑制高反射強光的光學顯微鏡和攝像頭以及分析測量軟件，能清晰地觀測金屬磨損痕跡和檢測金屬磨損程度。 系統配置了無限遠三目金相顯微鏡，高清晰sony攝像頭，圖像測量管理軟件。獨特的光路大范圍調節功能，改變照明光路中心，利用弱光照明、優化光路等技術手段，解決了光斑問題，獲得了良好的圖像效果，也獲得了用戶的認可，并初步決定以此攝像測量顯微鏡為標準，制定相關標準，在油品檢測行業推廣。
DMM-220D電腦型正置金相顯微鏡
DMM-220系列正置金相顯微鏡適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業用于觀察透明、半透明或不透明的物資，如金屬陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它非金屬材料，也適合醫藥、農林、公安、學校、科研部門作觀察分析用。同時也是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。
MMJ-3060E系列三目倒置金相顯微鏡
VM3300I/MMJ-3060系列倒置金相顯微鏡主要用于鑒定和分析金屬內部結構組織,它是金屬學研究金相的重要儀器,是工業部門鑒定產品質量的關鍵設備,主要用以鑒別和分析各種金屬及合金的組織結構，應用于工廠或實驗室進行各種金屬質量鑒定，原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析等工作。其偏光系統尤其適合對球墨鑄鐵石墨以及不銹鋼的檢驗。是一款組合功能比較強的實驗室用的金相顯微鏡。
BA310Met-H金相顯微鏡
面向工業應用領域的新型顯微鏡，具有優異的光學成像質量，可以從容應對品質管理，制造工序檢查等觀察需求。可以與用戶的系統或使用需求靈活組合配套。應用領域：半導體檢測、FPD、封裝、電路基板、鑄造、金屬材料、精密模具等。