• XJ-52C科研級三目正置金相顯微鏡
    XJ-52C科研級三目正置金相顯微鏡

    XJ-52C科研級三目正置金相顯微鏡

    工程師支持
    品牌
    MicroDemo
    產品編號
    1406
    產品型號
    XJ-52C科研級三目正置金相顯微鏡
    服務支持
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    起訂量
    市場報價
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    1
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    由于該產品已多次升級更新換代,我們無法保證XJ-52C科研級三目正置金相顯微鏡的圖片和參數等信息為最新最全面信息,我們強烈建議推薦您點擊此處聯系我們的在線工程師,他將給您推薦最專業的產品,同時我們也歡迎您來電咨詢:!

    產品概述

    XJ-52C科研級三目正置金相顯微鏡配有大范圍移動的載物臺、柯拉落射照明系統、長距平場物鏡、大視野目鏡,圖像清晰、襯度好,同時配有偏光裝置,可實現偏光觀察。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結構分析和鑒別,電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學顆粒的分析研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。總放大倍數:50X-800X
    ◆性能特點:
    1、系統配置了大尺寸、大范圍移動載物臺,適合大工件的檢查。
    2、采用大視野目鏡和長距平場物鏡,視場寬闊、平坦,成像清晰。?
    3、采用“T”型防振結構設計,機械載物臺可慢速或快速移動試樣。
    4、整機采用了防霉處理,保護了鏡頭,延長了儀器的使用壽命。?
    5、配置了偏光裝置并可選配暗場、微分干涉裝置,拓展了功能。。
    6、兩路光路自由切換輸出,一路用于觀察,一路連接攝像裝置。
    ◆典型應用:
    1、分析金屬、礦相內部結構組織。2、電子廠PCB板、芯片檢驗。
    2、觀察材料表面的某些特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。

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    一、顯微鏡參數:

    序號名稱技術參數
    01平場目鏡大視野 WF10X(Φ18mm)
    02長距平場物鏡PLL5X/0.12、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.60、80X/0.80
    03總放大倍數50X-800X
    04觀察頭三目鏡,傾斜30?,(內置檢偏振片,可進行切換)
    05轉換器五孔 (外向式滾珠內定位) 
    06粗微調調焦范圍
    粗微動同軸調焦, 微動格值0.7μm, 粗動松緊可調,帶鎖緊和限位裝置
    07載物臺三層機械移動式尺寸: 250mmX230mm,移動范圍: 154mmX154mm
    08光瞳距離53-75mm
    09濾色片藍、磨砂
    10落射照明系統6V 20W鹵素燈,亮度可調
    帶視場光欄、孔徑光欄、起偏振片,(黃,藍,綠)濾色片和磨砂玻璃
    11儀器重量凈重11.0公斤    毛重12.5公斤
    12儀器尺寸儀器尺寸42X45X45(cm) 包裝尺寸45X50X50(cm)


    二、目鏡參數:

    型號
    T ype
    放大倍率
    Magnification
    視場直徑(mm)
    F.O.V
    外徑(mm)
    Tube diameter
    WF10X/1810XΦ18Φ23.2


    三、物鏡參數:

    放大倍率 Magnification數值孔徑 N.A分辨率 R(μm)工作距離WD(mm)共軛距離Conjugate(mm)齊焦距離Parfocus(mm)蓋玻片厚度CoverGlass(mm)
    5X0.122.3026.119545
    10X0.251.108.8019545
    20X0.400.708.6019545
    40X0.600.553.7019545
    80X0.800.420.9619545
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