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統計粒徑分析顯微鏡 SRZ-7045UV-G是一套專門用于大的固體粉末,建筑沙石,顏料涂層及各類反光材料進行粒徑統計的顯微分析系統,顆粒的檢測范圍:20? 1000μM。該系統能自動提取每個顆粒的形狀,并計算顆粒的尺寸,面積,圓度等參數,自動統計出顆粒的平均直徑,及各個區間粒徑所占的比例。系統配置了專業高清晰CCD成像系統,使得圖像邊緣清晰,顆粒的提取更準確。粒度分析軟件能自動對顆粒進行統計并給出相應的粒徑報表,以供打印輸出。該系統應用范圍廣泛,凡是與顆粒圖像形態學有關的各種檢測與分析:例如固體粉末,建筑沙石,顏料涂層,漆表面缺陷分析,農業種子形態分析,各種微小異性幾何尺寸測量,化學工業中各種反應物粒子的形態分析等,都可以利用UV-G來完成。
系統配置:
序號 | 配置名稱 | 主要規格參數 |
---|---|---|
01 | 三目體視顯微鏡 | 7-45X |
02 | 高清攝像頭 | 彩色,900萬像素USB2.0輸出 |
03 | 攝像接口CTV | 1X |
04 | 粒度分析軟件UV-G | 包含所有基本測量功能,可以自動提取顆粒,自動統計顆粒的粒徑,輸出EXCEL報告。 |
05 | 品牌臺式機(選購) | win7、win10系統,內存2G以上,獨立顯卡,8G以上內存 |
06 | 佳能打印機(選購) | 彩色激光打印機 |
顯微鏡技術參數:
序號 | 名稱 | 技術參數 |
---|---|---|
01 | 目鏡 | 高眼點大視野目鏡10X(Φ20mm) |
02 | 物鏡 | 7X-4.5X 物鏡變倍比 1:6.4 |
03 | 總放大倍數 | 7X-45X(選購0.5X、2X大物鏡,20X目鏡可達3.5X-180X) |
04 | 觀察頭 | 三目,視度調節±5屈光度 45°傾斜 360°旋轉 |
05 | 瞳距 | 54-75mm |
06 | 視場范圍 | 4.0-31.4mm |
07 | 工作距離 | Zui大工作距離105mm |
08 | 調節范圍 | 升降調節范圍45mm 立桿高240mm |
09 | 載物臺 | 配有壓片和φ95mm玻璃臺板和黑白工作板 |
10 | 光源 | 上下LED燈照明,獨立開關,亮度可調,發熱量低,壽命長 |
11 | 儀器重量 | 凈重:5.0kg 毛重:6.5kg |
12 | 儀器尺寸 | 儀器尺寸24X34X42(cm) 包裝尺寸 52X30X42(cm) |