• LW400JT 芯片檢查顯微鏡
    LW400JT 芯片檢查顯微鏡

    LW400JT 芯片檢查顯微鏡

    工程師支持
    品牌
    MicroDemo
    產品編號
    1579
    產品型號
    LW400JT 芯片檢查顯微鏡
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    LW400JT芯片檢查顯微鏡適用于對不透明物體的進行顯微觀察。配置大移動范圍的機械式載物臺、落射照明器、內置偏光觀察裝置,具有圖像清晰、襯度好,造型美觀,操作方便等特點,是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。適用于學校、科研、工廠等部門使用。

    特點:

    1. 配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片),視場大而清晰。

    2. 配置大移動范圍的載物臺,能快速和慢速移動。

    3.粗微動同軸調焦機構,粗動松緊可調,帶鎖緊和限位裝置,微動格值:2μm。

    4. 6V 20W鹵素燈,亮度可調。

    5. 三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察,可進行100%透光攝影

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    主要技術參數:

    1、三目鏡筒:傾斜30 °,瞳距55mm-75mm,視度±5°

    2、目鏡:WF10X/18mm

    3、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)

    PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40

    PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8

    4、總放大倍數:50X-800X

    5、載物臺:尺寸: 280mm×270mm,移動范圍: 204mm×204mm

    6、調焦:粗微動同軸 升降范圍25mm ,微動格值0.002mm

    7、光 源:柯勒照明 濾色片座 可調鹵素燈6V20W

    8、正交偏光裝置

     

     

    選購件:

    1、目鏡:WF16X/11mm,WF20X/9mm,10X帶尺可調目鏡

    2、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L 50X/0.70、 PL L 60X/0.75 (彈簧)、 PL L 100X/0.85 (彈簧)

    平場消色差物鏡(無蓋玻片): PL 100X/1.25  (彈簧,油)

    3、攝像系統:數碼攝像頭130萬或300萬,數碼相機

    4、測量軟件,金相分析軟件等

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