• LW400MTDT正置芯片檢查金相顯微鏡
    LW400MTDT正置芯片檢查金相顯微鏡

    LW400MTDT正置芯片檢查金相顯微鏡

    工程師支持
    品牌
    MicroDemo
    產品編號
    1454
    產品型號
    LW400MTDT正置芯片檢查金相顯微鏡
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    用途:

    LW400MT系列正置明暗場偏光透反射金相顯微鏡是一種多用途工業檢驗用顯微鏡,配有五孔轉換器,明/暗場物鏡,大視野目鏡,100W大功率反射式及30W透射式“柯勒”照明系統,視場清晰明亮,并可配落射暗場照明裝置。可用于半導體硅晶片、掩膜板,LCD基板,電路板,固體粉末及其它各種透明或不透明工業試樣的檢驗;也可作生物試樣、金相試樣礦物試樣及巖相試樣的檢驗。

    技術參數:

    1、鏡筒:T三目,30°傾斜

    2、高眼點目鏡:WF10X/Φ25mm

    3、明暗場金相物鏡:5X、10X、20X、40X

    4、轉換器:五孔

    5、工作臺尺寸:310mm×350mm

    6、調焦:粗微動同軸,范圍36mm,微動0.002mm

    7、光源:垂直照明,鹵素燈12V100W,亮度可調

    8、DIC裝置:偏光裝置、明暗場轉換

    選購件:

    1、500萬或者1000萬像素數碼攝像頭

    2、610萬工業CCD;

    3、測量軟件或者金相分析軟件。

    4、明暗場物鏡:50X

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